Екатерина Александровна Добровольская

Ученые МФТИ и их коллеги разработали инновационный метод сканирующей микроскопии (SQVM), позволяющий визуализировать распределение пиннингового потенциала в сверхпроводящих пленках ниобия с нанометровым разрешением. Этот подход открывает новые возможности для изучения дефектов в сверхпроводниках, что может привести к улучшению характеристик квантовых устройств и сверхпроводящих материалов