В понедельник 20 ноября в 13:45 в зале семинаров ИФМ РАН состоится доклад д.ф.-м.н. Аладышкина Алексея Юрьевича (ИФМ РАН, Нижний Новгород) на тему ""Методы обработки топографических изображений вицинальных поверхностей на примере поверхностей Si(556) и Si(557)".
Аннотация: Главной особенностью вицинальных или высокоиндексных поверхностей кристаллов (hhm) является малая ширина плотноупакованных террас (менее 10 нм) при их значительной длине (более 200 нм). Это препятствует применению стандартных методов обработки изображений для корректной визуализации атомной структуры на поверхности террас. В докладе будут обсуждаться два метода обработки экспериментальных данных, позволяющих устранить мелкомасштабные шумы, глобальный наклон образца и нелинейные искажения топографических изображений: (i) вычисление второй производной посредством гауссова сглаживания и (ii) подбора параметров аппроксимирующей плоскости посредством оптимизации гистограммы распределения видимых высот. Описываемые методы обработки экспериментальных результатов могут быть интересны для решения более широкого класса задач, не сводящихся к методам сканирующей зондовой микроскопии.
Join Zoom Meeting https://us02web.zoom.us/j/81082804593?pwd=am12bkk1Q3dENkt4QTRBK214bHBDUT09 Meeting ID: 810 8280 4593 Passcode: 922268